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Thermo賽默飛FEI掃描電鏡離子源現(xiàn)貨報(bào)價(jià)

  • 更新時(shí)間:  2024-06-13
  • 產(chǎn)品型號(hào):  16830
  • 簡(jiǎn)單描述
  • 16830Thermo賽默飛FEI掃描電鏡離子源現(xiàn)貨報(bào)價(jià)Thermo Scientific Scios 2 DualBeam 是一套超高分辨率的分析 聚焦離子束掃描電子顯微鏡 (FIB-SEM) 系統(tǒng),可為包括磁性和非導(dǎo)電材料在內(nèi)的各種樣品提供出色的樣品制備與 3D 表征性能
詳細(xì)介紹

 16830Thermo賽默飛FEI掃描電鏡離子源現(xiàn)貨報(bào)價(jià)

賽默飛FEL 部分配件耗材

16830 離子源

4035 273 12631   拔出極

4035 273 6 7441 光闌

4035 272 35991 抑制極

4035 272 35971  拔出極

1058129   拔出極

1301684  Suppressor 抑制極

1096659 Aperture 光闌

1346158  PT 

Thermo Scientific Scios 2 DualBeam 是一套超高分辨率的分析 聚焦離子束掃描電子顯微鏡 (FIB-SEM) 系統(tǒng),可為包括磁性和非導(dǎo)電材料在內(nèi)的各種樣品提供出色的樣品制備與 3D 表征性能 。Scios 2 DualBeam 通過(guò)創(chuàng)新的功能設(shè)計(jì)提高了通量、精度以及易用性,是滿(mǎn)足科學(xué)家和工程師在學(xué)術(shù)、政府以及工業(yè)研究領(lǐng)域高級(jí)研究和分析需求的理想解決方案。

高質(zhì)量亞表面和 3D 信息

通常需要進(jìn)行亞表面或三維表征以更好地理解樣品的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)。Scios 2 DualBeam 及可選配的 Thermo Scientific Auto Slice & View 4 (AS&V4) 軟件可提供高質(zhì)量、全自動(dòng)的多模式 3D 數(shù)據(jù)集采集,包括用于最大材料對(duì)比度的背散射電子 (BSE) 成像、用于組成信息的能量色散光譜 (EDS) 以及用于微觀結(jié)構(gòu)和晶體學(xué)信息的電子背散射衍射 (EBSD)。與 Thermo Scientific Avizo 軟件組合使用后,Scios 2 DualBeam 可為納米級(jí)的高分辨率、高級(jí) 3D 表征以及分析提供的工作流程解決方案。

以超高分辨率提供完整的樣品信息

創(chuàng)新的 NICol 電子色譜柱為系統(tǒng)的高分辨率成像和檢測(cè)能力提供了基礎(chǔ)。它適用于多種工作條件,無(wú)論是在 30 keV 的 STEM 模式下(訪問(wèn)結(jié)構(gòu)信息)還是以較低能量(獲得無(wú)電荷的詳細(xì)表面信息)運(yùn)行,都可以提供出色的納米級(jí)細(xì)節(jié)。Scios 2 DualBeam 具有的鏡筒內(nèi) Thermo Scientific Trinity 檢測(cè)系統(tǒng),專(zhuān)用于同時(shí)采集角和能量選擇二級(jí)電子 (SE) 以及 BSE 成像數(shù)據(jù)。不僅可以快速訪問(wèn)從上到下的詳細(xì)納米級(jí)信息,還可快速訪問(wèn)傾斜的樣品或交叉切片的信息??蛇x配的透鏡下檢測(cè)器和電子束減速模式可以快速、便捷地同時(shí)采集所有信號(hào),揭示材料表面或交叉切片中最小的特征。具有全自動(dòng)對(duì)齊功能的 NICol 色譜柱,可獲得快速、準(zhǔn)確、可重現(xiàn)的結(jié)果。

快速、便捷地制備高質(zhì)量 TEM 樣品

科學(xué)家和工程師不斷面臨新的挑戰(zhàn)、需要對(duì)越來(lái)越復(fù)雜的樣品的更小特征進(jìn)行高度局部表征。Scios 2 DualBeam 的創(chuàng)新與可選、易用和全面的 Thermo Scientific AutoTEM 4 軟件以及賽默飛世爾科技的應(yīng)用專(zhuān)業(yè)知識(shí)相結(jié)合后,可支持客戶(hù)快速方便地制備用于多種材料的 自定義高分辨率 S/TEM 樣品。為了獲得高質(zhì)量結(jié)果,需要使用低能量離子進(jìn)行最終拋光,以盡可能減少對(duì)樣品表面的損壞。Thermo Scientific Sidewinder HT 聚焦離子束 (FIB) 鏡筒不僅能夠在高電壓下具有高分辨率成像和銑削能力,還具有良好的低電壓性能,能夠創(chuàng)建高質(zhì)量的 TEM 薄片。

16830Thermo賽默飛FEI掃描電鏡離子源現(xiàn)貨報(bào)價(jià)

主要特點(diǎn)

快速、便捷的制備

使用 Sidewinder HT 離子柱獲得高質(zhì)量、現(xiàn)場(chǎng)特定的 TEM 和原子探針樣品。

超高分辨率成像

使用在廣泛的樣品范圍(包括磁性和非導(dǎo)電材料)內(nèi)具有性能的 Thermo Scientific NICol 電子色譜柱。

最完整的樣品信息

通過(guò)各種集成式色譜柱內(nèi)和透鏡下檢測(cè)器獲得清晰、精確和無(wú)電荷的對(duì)比度。

高質(zhì)量、多模式亞表面和 3D 信息

使用可選配的 AS&V4 軟件,通過(guò)精確靶向感興趣區(qū)域來(lái)獲得高質(zhì)量、多模式亞表面和 3D 信息。

精確的樣品導(dǎo)航

高度靈活的 110 mm 載物臺(tái)和腔室內(nèi) Thermo Scientific Nav-Cam 攝像機(jī)允許根據(jù)具體應(yīng)用需求進(jìn)行定制。

無(wú)偽影成像和構(gòu)成圖案

具有專(zhuān)用模式,如 DCFI、漂移抑制和 Thermo Scientific SmartScan 模式。

優(yōu)化您的解決方案

靈活的 DualBeam 配置,包括可選配的最高 500 Pa 腔室壓力低真空模式,可滿(mǎn)足具體的應(yīng)用要求。

 




規(guī)格

電子束分辨率

· 最佳 WD

30 keV STEM 下為 0.7 nm

1 keV 下為 1.4 nm

1 keV(射束減速)下為 1.2 nm

電子束參數(shù)空間

· 電子束電流范圍:1 pA 至 400 nA

· 著陸能量范圍:20* eV – 30 keV

· 加速電壓范圍:200 V – 30 kV

· 最大水平射野寬度:7 mm WD 時(shí)為 3.0 mm,60 mm WD 時(shí)為 7.0 mm

· 可通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)導(dǎo)航剪輯提供超寬視野 (1×)

離子光學(xué)系統(tǒng)

· 加速電壓:500 V – 30 kV

· 電子束電流范圍:1.5 pA – 65 nA

· 15 位置光闌條

· 漂移抑制模式,為非導(dǎo)電樣品的標(biāo)準(zhǔn)模式

· 最小離子源壽命:1,000 小時(shí)

· 離子束分辨率:選擇角方法下 30kV 時(shí)為 3.0 nm

檢測(cè)器

· Trinity 檢測(cè)系統(tǒng)(鏡筒內(nèi)和色譜柱內(nèi))

T1 分段式下鏡筒內(nèi)檢測(cè)器

T2 上鏡筒內(nèi)檢測(cè)器

T3 可伸縮色譜柱內(nèi)檢測(cè)器(可選配)

多達(dá) 4 個(gè)同時(shí)檢測(cè)的信號(hào)

· Everhart-Thornley SE 檢測(cè)器 (ETD)

· 用于二級(jí)離子 (SI) 和二級(jí)電子 (SE) 的高性能離子轉(zhuǎn)換和電子檢測(cè)器 (ICE)(可選配)

· 可伸縮、低電壓、高對(duì)比度、分段式、固態(tài)反向散射電子檢測(cè)器 (DBS)(可選配)

·  BF/DF/HAADF 分段的可伸縮 STEM 3+ 檢測(cè)器(可選配)

· 查看樣品和腔室的 IR 攝像機(jī)

· 腔室內(nèi) Nav-Cam 樣品導(dǎo)航攝像機(jī)(可選配)

· 集成的光束電流測(cè)量

載物臺(tái)和樣品

靈活的 5 軸電動(dòng)平臺(tái):

· XY 范圍:110 mm

· Z 范圍:65 mm

· 旋轉(zhuǎn):360°(無(wú)限)

· 傾斜范圍:-15° 至 +90°

· XY 重復(fù)性:3 μm

· 最大樣品高度:與共心點(diǎn)間距 85 mm

· 0° 傾斜時(shí)的最大樣品重量:5 kg (包括樣品架)

· 最大樣品尺寸:*旋轉(zhuǎn)時(shí) 110 mm(也可以是更大的樣品,但旋轉(zhuǎn)有限)

· 計(jì)算中心旋轉(zhuǎn)和傾斜

 




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